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关键词： FPCB   光刻仿真   光刻胶形貌   流体扩散  

摘要： 柔性电路板(Flexible Printed Circuit Board,FPCB)是一种具有高可靠性和优异性能的印制电路板,由聚酰亚胺或聚脂薄膜和铜箔制成。它具有柔韧可折叠、轻便小巧、灵活度高等特点,广泛应用于移动通信、数字电子、屏幕显示、可穿戴设备等领域。随着电子产品向小、轻、薄、巧等方向发展以及显示面板刷新频率和分辨率的快速提高,对FPCB的质量要求也越来越高,柔性电路板制造工艺复杂,生产过程中每一道工艺的进展好坏都影响着最终产品的质量。因此明确FPCB关键生产工艺的机理,洞悉各工艺参数的影响,对于提高生产效率和线路密度具有重要意义。本文首先对FPCB生产工艺流程进行介绍,列举不同的曝光仿真方法和显影仿真方法,分析各种仿真方法的优缺点和适用性,根据FPCB的生产工艺特点和仿真需求,确定本文采用有限时域差分法(Finite Difference Time Domain,FDTD)对曝光工艺进行仿真,采用有限元方法对FPCB显影工艺进行仿真。然后采用FDTD方法建立FPCB光学模型,模拟FPCB曝光工艺,分析曝光过程中光的衍射效应,研究曝光剂量和曝光介质对于光刻胶中光强分布的影响,分析对比得到FPCB生产工艺最佳参数。最后利用有限元方法对FPCB显影过程进行建模仿真,分析显影过程中显影液的对流扩散特性以及显影液与曝光后光刻胶的化学反应,明晰显影域随时间变化的演化规律,研究Na OH溶液浓度场及速度场的变化,以及Na OH溶液初始浓度和入口速度对显影腔轮廓演化的影响。并根据仿真参数,制备18μm线心距FPCB样品,观测样品的三维微观形貌,提取样品二维截面轮廓与仿真计算得到的曝光域轮廓以及显影腔轮廓对比,为仿真结果的正确性提供了论证。

关键词： GaN   振荡   无源驱动优化方法   负压自恢复   稳定性   负电导模型  

摘要： 相比硅(Silicon,Si)器件,氮化镓(Gallium Nitride,GaN)器件具有较高的开关速率和较低的导通电阻,在很多领域得到了广泛的应用。然而,由于高的dv/dt和较低的阈值电压,GaN器件容易在主动管开通和关断过程中出现持续振荡现象,导致器件损坏。为明确GaN器件在实际应用中出现持续振荡的条件,本文将从电路振荡稳定性的角度出发,提出了一种判断电路振荡稳定性的方法,分析在常规驱动方法下电路的振荡稳定性。在此基础上,提出了在驱动回路加入无源器件来提高电路振荡稳定性。根据无源器件的种类、是否具有初值以及其加入的位置,可以分为在驱动回路引入负压、串联高阻尼支路以及并联低阻抗支路三类。首先,提出了一种利用无源器件实现GaN器件负压关断的方法,该方法中分压器由稳压二极管、电阻和电容组成,它与驱动芯片间具有两种连接方式,可以实现恒定不变的负压和具有自恢复的负压,在开通回路串联的二极管可起到抑制栅源极电压振荡的作用。基于双脉冲电路,对两种连接方式的无源驱动优化方法进行了模态分析,详细说明了相关参数的设计要点,通过仿真和实验验证了该方法的有效性,在此基础上分析了负压关断对电路振荡稳定性的影响。其次,分析了采用常规驱动方法时,GaN器件在开关过程中出现持续振荡现象的诱因,根据诱因建立了在驱动回路串联高阻尼支路(关断电阻、磁珠)的负电导模型,提出利用环路电导值作为衡量电路稳定度的标志,归纳总结了串联高阻尼支路前后环路电导值的变化规律,通过仿真和实验验证了理论分析的准确性。最后,根据振荡诱因建立了在驱动回路并联低阻抗支路(RC阻尼器)的负电导模型,归纳总结了并联低阻抗支路后环路电导值的变化规律,通过仿真和实验验证了理论分析的准确性。在此基础上对比了负压关断、串联高阻尼支路、并联低阻抗支路这三种无源驱动优化方法的优劣,为选择合适的无源驱动优化方法提供了指导。

关键词： 电路仿真   GMRES   LU分解   预条件重用  

摘要： 大规模集成电路的设计和分析都依赖于电子设计自动化(Electronic Design Automat-ion,EDA)技术,需要通过数值模拟方法对电子电路进行仿真。电路系统数值模拟本质上是求解线性方程组Ax=b,其中A为非对称的大规模稀疏矩阵,b是已知向量,x是待求解向量。在如今的科学与工程计算任务中,线性方程组的未知量个数越来越多,导致计算需求越来越大,使得线性方程组(特别是系数矩阵为大型稀疏矩阵的方程组)的快速求解变得至关重要。一般来说,直接法求解方程组所需要的运算次数为O(n3)(n为系数矩阵A的维数),但该方法不可避免地需要耗费巨量的存储资源和计算资源,同时也可能会导致系数矩阵的结构遭到破坏。此外,若n的数值过大,直接法的计算效率将显著降低。与直接法不同,迭代法是逐步逼近线性方程组的解,其求解稀疏线性方程组所需的计算量相对较小。此外,迭代法的程序设计简单,并能够有效地利用矩阵的稀疏性来节省内存,因此在解决大规模问题时,通常采用迭代法。与直接法相比,合适的迭代解法计算量更小,且误差更可控,有望较大幅度地提高大规模稀疏矩阵方程组求解的计算效率,在复杂电路仿真的加速问题上有重要的工程应用价值。GMRES(Generalize Minimal Residuals,广义最小残差法)方法是求解大型稀疏非对称方程组极为有效的迭代法之一,该方法是利用Krylov子空间的方式近似求解方程组,即通过寻找能够使残差最小的向量来逼近实际解。但是,如果采用GMRES方法进行计算,随着迭代次数的增加,计算和存储的需求也随之增加,有时GMRES方法可能不会收敛。为了解决这一问题,研究者们在算法方面进行了多项改进和优化,深入探索了 G MRES方法的预处理技术。预处理技术可以使方程组系数矩阵的结构特征改变,从而进一步提升计算效率。因此,本文的关键研究方向在于寻找恰当的预处理方法。本文立足于Krylov子空间方法,尝试研究一些有效的加速策略,旨在提高电路仿真中预处理GMRES迭代法的求解速度。电路仿真中现有的求解大规模稀疏系统使用的预处理GMRES迭代法收敛性不能很好地满足工程计算需求,针对此弊端,本文提出了预条件重用LU广义最小残差法(RPLUGMRES),该方法结合电路矩阵的特点,采用预处理GMRES迭代法,将LU分解导出的L、U作为预条件进行重用。首先将预处理GMRES迭代法用于求解线性系统问题,再针对预处理GMRES迭代法求解过程中的不良问题,利用预条件重用有效提高了算法的收敛速度,减少了矩阵向量乘次数和CPU时间,并对ILU(Incomplete LU)分解做预条件重用的数值稳定性进行了分析,最后在数值实验中验证了 RPLUGMRES的有效性。另一方面,针对预处理GMRES迭代法初始值设置简单随意的问题,RPLUGMRES将初始值设置为预矩阵求解的值,即在t0时刻,对A0进行LU分解,将分解产生的L、U代入下一时刻线性方程组A1x=b1中得LUx=b1并求解,所得解向量作为下一时刻预处理GMRES迭代的初始值,并与初始值设置为零的策略进行了对比评估,结果表明RPLUGMRES方法初始值设置策略的有效性。本文提出的RPLUGMRES方法主要在预条件重用和初始值设置两个方面,较预处理GMRES迭代法有较为显著的提升和改进。实验结果表明,本文RPLUGMRES方法具有较强的工程实用性,能够在实际电路求解问题中较大幅度地提高计算效率、降低计算成本。

关键词： 集成电路测试   数据解析   监控算法   实时监控系统  

摘要： 集成电路测试的目的是确保每个晶粒或封装好的芯片能满足器件的特性和设计规格,通常包括时序、电压、电流和功能的验证,有着技术及方案复杂度高、软硬件集成度高的特征。测试机、配件、测试环境、架机操作手法等任何因素的不良都会带来严重的测试可靠性问题,包括误宰、误放、测试值漂移、修调参数异常、产品大量报废等等,测试工厂每年因可靠性问题造成的损失多达数百万元。因此,为了保证测试结果准确可靠,研发一套集成电路测试实时监控系统来提升测试问题发现的技术和时机,减少测试故障持续的时间和损失,有重要意义。本课题主要研究集成电路测试实时数据增量提取技术、故障识别及预测算法设计、监控系统设计及编程开发实现等关键内容,使该系统能对工厂多台测试设备在线自动化监控,达到实时发现可靠性问题并报警的目的。首先对集成电路测试所产生的二进制数据文件STDF展开结构研究,包括头信息、主体信息、尾信息等,并完成脚本程序的开发和多台终端测试机的部署,该脚本能实现二进制数据文件有效信息的实时增量提取。在华东某集成电路测试工厂采集了超过千万颗的芯片测试数据并对大量数据分析研究后,制定出7种具有统计学意义的有效特征指标及其监测算法,包括连续失效颗数,硬件失效类别数,软件失效类别数,良率,工位良率差,参数平均值,工位参数值差等;其次设计出一套测试数据实时监控系统模型,包括设备终端脚本程序、用户端监控指标配置程序、服务器端实时监控程序三部分。终端脚本程序负责多测试设备终端有效数据提取及服务器数据库写入;用户端配置程序用于工程人员设定不同芯片需要监控的参数项目及控制值;服务器端程序能实时监听多终端上传到数据库的数据,并进行参数项目的算法检测和控制值比对,系统能在指标异常时触发多重方式自动报警,包括软报警(发送邮件、系统提示)和硬报警(三色灯声光提示、通信协议控制停机、外置终端机械手控制停机)。最后通过软件编程、硬件模块的集成、验证调试,完成了监控系统的原型开发,在上述测试工厂发布后,实现了对集成电路测试过程中的数据实时解析、算法检测、异常指标监控及自动报警功能。并在运行的半年里取得了异常发现率提升30%、报废损失金额降低45%的良好效益,工厂测试品质得到巨大提升。

摘要： 摘要：论文主题：电子学、电信技术、电力工程、计算机技术、自动化控制、仪器仪表、材料学、电光学、智能制造、智能建筑、智能汽车、能源管理、工业经济、科学管理、教学实践。栏目：市场分析、研究与设计、工艺与制造、创新应用。投稿邮箱：appic@***，微信：17717632153。《集成电路应用》杂志国内统一连续出版物号：

摘要： 集成电路产业是我国战略性新兴产业中新一代信息技术的重要组成部分，关系国家经济社会的安全与命脉。党的二十大提出“推动战略性新兴产业融合集群发展”“构建新一代信息技术等新的增长引擎”等国家战略，山东省第十二次党代会明确“强力突破新一代信息技术”，青岛市第十三次党代会将集成电路产业列入全市10大新兴产业首位。青岛市集成电路产业园是青岛市规划建设的15个新兴产业专业园区之一。

摘要： 申请号:202310243418.4【申请日】2023.03.14【公开号】CN115950938A【公开日】2023.04.11【分类号】H04W4/80;H04L67/12;G01N27/327【申请人】武汉理工大学【发明人】张甜;史玮玮;李明;杨迎磊【摘要】本发明涉及一种基于物联网的电化学检测仪的检测方法及电路，本发明通过电极表面修饰的化学材料制成电化学生物传感器，对分析物进行特异性识别，设计检测电路，采集电极的识别信号进行定量和定性分析，并提供分析数据上传功能，通过蓝牙协议将采集的数字信号发送至手机App，处理数据得出差分脉冲伏安的检测结果，汇总之后通过MQTT协议发送至PC服务器，在PC端进行数据的整合和存储。

关键词： 可测试性设计   静态随机存储器   存储器内建自测试   耦合故障   March LR算法  

摘要： 随着集成电路工艺的不断发展,电路集成规模密度也在逐渐提高,密度的增加也必然带来故障出现的可能性,因此,在芯片设计过程中的可测试性设计显得尤为重要。存储器在芯片中的占比在逐年增加,在一定程度上存储器能否正常运行是芯片成功的必要条件,如何对存储器进行测试是人们研究的重要内容,存储器内建自测试是可测试性设计中的重要领域,通过将测试算法写入芯片中的方式,实现了芯片自产生测试向量,摆脱了对昂贵设备的依赖。工艺科技的不断发展,人们发现出各种隐藏的故障类型,本文将基于静态故障模型改进测试算法,并优化测试结构。本文的研究内容如下:(1)提出了改进的March LR算法,并提供了一种通用测试算法改进流程。研究常用测试算法对简单故障模型的覆盖率,March LR算法具有较优的检测能力,但对于静态故障单一单元故障和两个单元的耦合故障检测能力不足,针对March LR算法未能覆盖到的故障类型,提出了一种改进算法流程对March LR算法进行最优改进,改进之后的March LR算法在静态故障上的覆盖率相比原March LR算法提升近35.8%。(2)提出了一种基于计数器的双层状态机测试结构,芯片中通常包含有多种类型的存储器,多类型的存储器端口的不一致需要设计多个测试结构,并且数据和地址的不同也给存储器测试带来挑战。针对多类型存储器的测试结构问题,本文提出了一种基于计数器的双层状态机测试结构,顶层状态机控制测试存储器的次序,算法状态机模块控制算法的运行,计数器模块为算法状态机模块提供状态转移的条件,并且提供地址的产生,控制模块根据顶层状态机的存储器有效状态切割地址和写读端口,该设计结构可以同时测试不同类型及大小的存储器。(3)本文采用55nm工艺的集成电路设计流程完成电路结构设计,该电路设计可测试广泛的不同大小的存储器,经过完整的前后端设计,功能仿真结果正常,最终版图满足设计规则检查、电路匹配规则等,最后将设计版图提交至生产厂商做实际流片测试。

摘要： 举创新提升超越引领纲；铸爱党爱国敬业爱岗魂；立企业强寓行业兴盛本；树诚信和谐公平竞争德；筑美丽建材员工富裕梦。财政部税务总局国家发展改革委工业和信息化部公告2023年第44号为进一步鼓励企业研发创新，促进集成电路产业和工业母机产业高质量发展，现就有关企业研发费用税前加计扣除政策公告如下：一、集成电路企业和工业母机企业开展研发活动中实际发生的研发费用，未形成无形资产计入当期损益的，在按规定据实扣除的基础上，在2023年1月1日至2027年12月31日期间，再按照实际发生额的120%在税前扣除；形成无形资产的，在上述期间按照无形资产成本的220%在税前摊销。