关键词:
碳化硅
晶须
制备工艺
热力学分析
摘要:
晶须是在人工控制条件下,以单晶形式生长的一种短纤维,其长径比很大,一般都大于10,直径非常小(0.1~10um),其原子排列高度有序,晶体结构近乎完整,因而强度近乎于完整晶体的理论值。在所有陶瓷晶须中,SiC晶须以其优异的性能被用来增强陶瓷基和金属基复合材料。因此,各国学者对晶须的研究和开发受到高度重视。 本文首先研究不同的硅源和碳源对合成晶须的影响。然后以硅微粉,石墨,NaAlF为原料,研究了SiO-C-NaAlF体系中,不同工艺条件下对合成晶须的影响。采用XRD和SEM等研究手段对生成的产物进行了表征。 研究结果表明:以纯度高的埃肯硅微粉为硅源,石墨为碳源所合成的晶须质量较好,石墨的粒度不能过小或过大,在100目左右时生成晶须的质量最好。温度过低无法形成晶须(如1300℃),在1500℃的温度下形成的晶须质量最好。随着保温时间的延长,所得晶须直径增大,长径比增大。Si/Al比从2∶1增大到8∶1的过程中,晶须直径先增大再减小。Si/Al比为4∶1时,合成晶须的质量最好。 对晶须合成过程进行了热力学分析,研究了SiO和CO分压对合成反应的影响,结果表明:CO和SiO分压对反应体系中各相稳定性和过饱和度的影响。平衡时SiO气体的分压是相当大的,其分压大约为10atm到1atm之间。随着CO分压的减小,SiC合成反应的开始温度逐渐降低。随着P增大,过饱和度增大,当P为10atm时P要小于10atm,才能使过饱和度∑大于10,所以CO和SiO的分压要控制在一定范围内,满足晶须生长的要求。 生长机理最有可能是二维气-固成核生长机理,在气-固界面SiC通过二维成核生成片状晶芽,台阶在驱动力作用下沿光滑界面运动,沿(111)面最终生长成晶须。